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MS2675D-IIB表面電阻測(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述：MS2675D-IIB表面電阻測(cè)試儀符合GB4706.1-2005等安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。MS2675D-ⅡB型表面電阻測(cè)試儀型絕緣電阻測(cè)試儀是一種測(cè)量各種電子元件、介質(zhì)材料、整機(jī)等絕緣性能的測(cè)量?jī)x器。具有測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、測(cè)試精度高，操作簡(jiǎn)單，攜帶方便等特點(diǎn)。本儀器符合電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)GB6587.1《電子測(cè)量?jī)x器環(huán)境實(shí)驗(yàn)總綱》中的第Ⅱ組的要求。
產(chǎn)品型號(hào)：- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2020-04-03
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：761
產(chǎn)品介紹
MS2675D-IIB表面電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品說(shuō)明：
測(cè)試電壓：DC：250V/500V/1000V
測(cè)量范圍：1～10000(MΩ) ±5%
報(bào)警阻值：1～9999(MΩ)，任意設(shè)定
定 時(shí)：1～99(s)
主要功能：測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)顯示，單片微處理器控制測(cè)試，且有合格/不合格判定，聲光報(bào)警。
MS2675D-IIB表面電阻測(cè)試儀
符合GB4706.1-2005等安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。MS2675D-ⅡB型表面電阻測(cè)試儀型絕緣電阻測(cè)試儀是一種測(cè)量各種電子元件、介質(zhì)材料、整機(jī)等絕緣性能的測(cè)量?jī)x器。具有測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、測(cè)試精度高，操作簡(jiǎn)單，攜帶方便等特點(diǎn)。本儀器符合電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)GB6587.1《電子測(cè)量?jī)x器環(huán)境實(shí)驗(yàn)總綱》中的第Ⅱ組的要求。
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