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  • AT5120多路電阻測(cè)試儀

    AT5120多路電阻測(cè)試儀 是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、可以對(duì)20路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示20路電阻值,并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器,AT5120可以測(cè)試1μΩ~30KΩ的電阻,大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能,可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備,可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào),以提高生產(chǎn)自動(dòng)化

    更新日期:2020-04-07
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  • AT5108多路電阻測(cè)試儀

    AT5108多路電阻測(cè)試儀 是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程,可以對(duì)8路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值,并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器,AT5108可以測(cè)試1μΩ~30KΩ的電阻,大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備,可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào),以提高生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試

    更新日期:2020-04-07
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  • AT5110多路電阻測(cè)試儀

    AT5110多路電阻測(cè)試儀 是高精度寬量程多路電阻測(cè)試儀,可對(duì)10路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值,并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器,AT5110可以測(cè)試1μΩ~30KΩ的電阻,大顯示30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備,可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào),以提高生產(chǎn)自動(dòng)化設(shè)備

    更新日期:2020-04-07
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  • AT510X6多路電阻測(cè)試儀

    AT510X6多路電阻測(cè)試儀 是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~400KΩ,大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)20ms/次,AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。 配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

    更新日期:2020-04-07
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  • AT51X8多路電阻測(cè)試儀

    AT51X8多路電阻測(cè)試儀 是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀,可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示8路電阻值,并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器,AT51X8可以測(cè)試1μΩ~300KΩ的電阻,大顯示30,000數(shù)。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備,可使用RS232C及HANDLER接口輸出GD/NG信號(hào),以提高生產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試能力!

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  • AT511C直流電阻測(cè)試儀

    AT511C直流電阻測(cè)試儀 是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀,是 AT511M 的升級(jí)版本。 AT511C 相對(duì)于前代產(chǎn)品 AT511M,具有更廣的測(cè)試范圍:0.1mΩ~50.00kΩ,大顯示 5000 數(shù)。同時(shí)提升了測(cè)試速度:快可達(dá) 10 次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路,全電子開關(guān)的設(shè)計(jì),可瞬間完成從高量程到低量程的切換。

    更新日期:2020-04-07
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